三丰轮廓粗糙度一体机SC-C3200/4500

同时能测量表面粗糙度和测量轮廓形状的混合型测量机
体机较大的节约了安装空间
采用新型直式测臂的检出器
扩大测量范围的同时降低对工件的干扰
新型直式测臂不仅能降低对工件的干扰还能扩大 Z1 轴 (检
出器) 测量范围。
测臂安装为一键式装卸 (
测臂安装部采用了磁性连接件，实现了快速更换。此外，
装卸部内置了安全结构。

型号(货号) SV-C3200S4 SV-C3200H4 SV-C3200W4 SV-C3200L4 SV-C3200S8 SV-C3200H8 SV-C3200W8 SV-C3200L8
SV-C4500S4 SV-C4500H4 SV-C4500W4 SV-C4500L4 SV-C4500S8 SV-C4500H8 SV-C4500W8 SV-C4500L8
测量表面粗糙度时
测量范围 X 轴 (驱动部) 100mm ，200mm（可选）
Z1 轴 (检出器) 800μm / 80μm / 8μm
直线度 (0.05+L/1000)μm L= 驱动长度 (mm) (0.1+0.002L)μm L= 驱动长度 (mm)
分辨力 Z1 轴 (检出器) 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
测力 0.75mN / 4mN可选
测针针尖形状 60o, 2μmR (测力0.75mN的型号) / 90o, 5μmR (测力4mN的型号)
对应尺寸 JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA
评价参数
Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, PΔq, Pm(rC), Pmr, Pδc, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, RΔq, Rm(rC), Rmr,
Rδc, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, WΔq, Wm(rC), Wmr, Wδc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W,
Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, Δa, λa, λq, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
评价轮廓 原始轮廓、粗糙度轮廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、滚动圆波形原始轮廓、滚动圆波形轮廓、包络残余线、
DF轮廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包络波纹轮廓在评价MOTIF时显示)
分析图 负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、Walsh 功率谱、 Walsh 自相关、**峰分布、倾斜角分布、
参数分布 (磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的分析)
曲线补偿 较小平方直线、R 面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双曲线补偿、二次曲线补偿、多项式补偿 (自动或任意 2~7 次)、无补偿
滤波器 高斯滤波器、2CRPC75、 2CRPC50、 2CR75、 2CR50、准样条滤波器
轮廓测量
测量范围 X 轴 (驱动部) 100mm ，200mm（可选）
Z1 轴 (检出器) 60mm (测臂水平位置 ±30mm)
直线度 0.8μm / 100mm 2μm / 200mm
指示精度 X 轴 (驱动部) ±(0.8+0.01L)μm L= 驱动长度 (mm) ±(0.8+0.02L)μm L= 驱动长度 (mm)
Z1 轴 (检出器) SV-C3200系列 : ±(1.4+｜2H｜/100)μm, SV-C4500系列 : ±(0.8+｜2H｜/100)μm H : 水平位置上的测量高度(mm)
分辨力
X 轴 (驱动部) 0.05μm
Z1 轴 (检出器) SV-C3200系列 : 0.04μm, SV-C4500系列 : 0.02μm
Z2 轴 (立柱) 1μm
测力 SV-C3200系列 : 30mN (根据重量调整), SV-C4500系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN (根据软件转换)
测头方向 SV-C3200系列 : 垂直方向 (向上/ 向下单独测量), SV-C4500系列 : 垂直方向 (向上/ 向下连续测量)
通用时
Z2 轴 (立柱) 移动量 300mm 500mm 700mm （可选）
X 轴倾斜角度 ±45o
驱动速度 X 轴 0 ～ 80mm/s 外加手动
Z2 轴 (立柱) 0 ～ 30mm/s 外加手动
测量速度 0.02 ～ 20mm/s